Продукт

Китайский производитель многоточечного профилографа луча FSA500

Измерительный анализатор для анализа и измерения оптических параметров лучей и фокусируемых пятен. Он состоит из блока оптического наведения, блока оптического ослабления, блока термообработки и блока оптического формирования изображения. Он также оснащен возможностями программного анализа и предоставляет отчеты об испытаниях.


  • Модель:ФСА500
  • Длина волны:300-1100 нм
  • Власть:Макс 500 Вт
  • Название бренда:КАРМАН ХААС
  • Детали продукта

    Теги продукта

    Описание инструмента:

    Измерительный анализатор для анализа и измерения оптических параметров лучей и фокусируемых пятен. Он состоит из блока оптического наведения, блока оптического ослабления, блока термообработки и блока оптического формирования изображения. Он также оснащен возможностями программного анализа и предоставляет отчеты об испытаниях.

    Особенности инструмента:

    (1) Динамический анализ различных показателей (распределение энергии, пиковая мощность, эллиптичность, M2, размер пятна) в пределах глубины резкости;

    (2) Широкий диапазон длин волн от УФ до ИК (190–1550 нм);

    (3) Многоточечный, количественный, простой в эксплуатации;

    (4) Высокий порог повреждения до средней мощности 500 Вт;

    (5) Сверхвысокое разрешение до 2,2 мкм.

    Применение инструмента:

    Для однолучевого или многолучевого измерения параметров фокусировки луча.

    Спецификация инструмента:

    Модель

    ФСА500

    Длина волны (нм)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Диаметр пятна положения входного зрачка (мм)

    ≤17

    Средняя мощность(Вт)

    1-500

    Светочувствительный размер (мм)

    5,7х4,3

    Измеримый диаметр пятна (мм)

    0,02-4,3

    Частота кадров (кадров в секунду)

    14

    Разъем

    USB 3.0

    Применение инструмента:

    Диапазон длин волн тестируемого луча составляет 300–1100 нм, средний диапазон мощности луча — 1–500 Вт, а диаметр измеряемого сфокусированного пятна — от минимум 20 мкм до 4,3 мм.

    Во время использования пользователь перемещает модуль или источник света, чтобы найти наилучшее положение для тестирования, а затем использует встроенное программное обеспечение системы для измерения и анализа данных.Программное обеспечение может отображать двумерную или трехмерную диаграмму распределения интенсивности поперечного сечения светового пятна, а также может отображать количественные данные, такие как размер, эллиптичность, относительное положение и интенсивность светового пятна в двух -мерное направление. При этом луч М2 можно измерить вручную.

    й

    Размер структуры

    дж

  • Предыдущий:
  • Следующий:

  • сопутствующие товары